DI-Multimode Rasterkraftmikroskop

Das Multimode Rasterkraftmikroskop (engl.: atomic force microscope – AFM) von DI-Instruments ist ein hochauflösendes, kommerziell erhältliches Rastersondenmikroskop (engl.: scanning probe microscope – SPM), das bei Raumtemperatur unter Normalbedingungen betrieben wird, und ist ein nützliches Instrument zur Abbildung der Oberfläche verschiedener Materialien auf atomarer Skala.

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Fast-scanning tunneling microscope (velociter-STM)

Die Rastertunnelmikroskopie (engl.: scanning tunneling microscopy – STM) wird heutzutage vielfach angewendet und gilt als die effektivste Methode zur Abbildung von Oberflächenstrukturen auf der Nanoskala. Das velociter-STM ist ein kommerziell erhältliches STM (STM 150 Aarhus) der Firma Specs Surface Nano Analysis.

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Hochauflösendes Elektronenenergieverlustspektrometer (HREELS)

Das hochauflösende Elektronenenergieverlustspektrometer (engl.: high-resolution electron energy loss spectrometer – HREELS) ist eine der anspruchvollsten analytischen Methoden der Oberflächenchemie. HREELS ermöglicht nicht nur die Anregung und Detektion aller relevanter Schwingungsfrequenzen von Adsorbat-Substrat-Systemen (meist wohldefinierte Metall- oder Metalloxid-Einkristalle mit verschiedenen Adsorbaten), sondern ist darüber hinaus in der Lage elektronische Anregungen (wie z.B. Plasmonen, HOMO-LUMO Anregungen) aufzulösen.

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Femtosekundenlaser-Rastertunnelmikroskop (fs- RTM)

Das fs-STM (engl.: scanning tunneling microscope) kombiniert ein Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop mit einem Femtosekunden-Lasersystem. Das Rastertunnelmikroskop wird im Ultrahochvakuum betrieben und besteht aus vier Kammern. Die STM-Kammer ist mit der Präparationskammer verbunden, an der wiederum zwei kleinere Vorkammern angebracht sind, die Ladekammer und der Moleküleinlass.

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Multiskalen-Rastertunnelmikroskop (Multi-STM)

Das Multiskalen-Rastertunnelmikroskop (Multi-STM) unterscheidet sich von herkömmlichen STMs durch die Kombination von zwei verschiedenen Sondentypen, eienr sogenannten „beetle stage“ und einer „flexure stage“. Das zweistufige STM arbeitet bei Raumtemperatur unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV) und ist in der Lage Probenoberflächen von 450 µm x 450 µm bis hin zur Nanometerskala aufzulösen.

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Rastertunnel-Rasterelektronenmikroskop Jeol JSPM-4500S – „Schmetterling“

Die Apparatur JSPM-4500S der Firma Jeol bietet die Möglichkeit zur Präparation und Untersuchung von Probenoberflächen mittels Rastertunnelmikroskopie (scanning tunneling microscopy – STM), Rasterelektronenmikroskopie (scanning electron microscopy – SEM), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (x-ray photoelectron spectroscopy – XPS) und niederenergetischer Elektronenbeugung (low energy electron diffraction – LEED) unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV) und besteht aus drei Kammern, die durch hydraulisch betriebene Plattenventile voneinander getrennt sind.

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Tieftemperatur-Rastertunnel-Rasterkraft-Mikroskop (LT-STM/AFM)

Seit ihrer Erfindung sind die Rastertunnelmikroskopie (scanning tunneling microscopy – STM) und die Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy – AFM) weitverbreitete und essentielle Messmethoden der Oberflächenphysik, die es ermöglichen Nanostrukturen bis hin zu einzelnen Molekülen und Atomen unter den kontrollierten Bedingungen im Ultrahochvakuum (UHV) zu untersuchen.

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Photoemissionsspektroskopie (XPS = X-Ray photo spectroscopy) und Beugung niederenergetischer Elektronen (LEED = low energy electron diffraction)

Das Parasol ermöglicht die Präparation und Untersuchung von Probenoberflächen mit verschiedenen Oberflächenanalysemethoden unter Ultrahochvakuum-Bedingungen (UHV). Das System ist ausgestattet mit einem Halbkugelanalysator (SPECS, PHOIBOS 100) mit einer Auflösung von <0,3 eV. um die (kinetische) Energie der von der Probe emmitierten Elektronen zu messen. Zur Anregung der Elektronenemmision stehen eine Röntgenquelle, eine Quelle für ultraviolettes Licht (UV), sowie eine Elektronenkanone bereit. Desweiteren beinhaltet die Apparatur ein System zur Beugung niederenergetischer Elektronen (low energy electron diffraction – LEED) zur Bestimmung der Oberflächenbeschaffenheit.

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Ultrahochvakuum-Fourier-transform-Infrarotspektroskop (UHV-FTIRS)

Das Ultrahochvakuum-Fourier-transform-Infrarotspektroskop (UHV-FTIRS) kombiniert ein modernes Infrarotspektroskop (Bruker, VERTEX 80v) mit einem Ultrahochvakuumsystem (Prevac), bestehend aus Lade-, Verteiler-, Präparations-, Hochdruck-, und Messkammer.

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