DI-Multimode Rasterkraftmikroskop
Das Multimode Rasterkraftmikroskop (engl.: atomic force microscope – AFM) von DI-Instruments ist ein hochauflösendes, kommerziell erhältliches Rastersondenmikroskop (engl.: scanning probe microscope – SPM), das bei Raumtemperatur unter Normalbedingungen betrieben wird, und ist ein nützliches Instrument zur Abbildung der Oberfläche verschiedener Materialien auf atomarer Skala. Neben der Abbildung von Metallen und metallischen Dünnschichten ist es auch möglich biologische Proben, Isolatoroberflächen und Polymer-Verbindungen abzubilden. Die verschiedenen Messmodi des DI-Multimode AFM sind zum einen contact-mode und tapping-mode AFM, zum anderen ist es auch möglich rastertunnelmikroskopische Messungen (engl.: scanning tunneling microscopy – STM) durchzuführen. Desweiteren liefert das Gerät eine einfache und benutzerfreundliche Bedienung bei der Messung, als auch bei der Proben- und Cantilever-Installation. Abbildung 1a und 1b zeigen den Aufbau des DI-Multimode AFM Messkopfs, sowie die Proben- und Spitzenhalterung des Geräts. Die verhältnismäßig einfache Probenpräparation erfolgt an Luft, jedoch können nur Proben bis zu einer Größe von ungefähr 1 cm2 untersucht werden.
Neben der Anwendung in Fortgeschrittenenpraktika wird dieses Gerät häufig in Experimenten für die Bachelorarbeit verwendet.
Abb.: 1a
Abb.: 1b