Rastermikroskopie

Elektronenmikroskop

FEI eSEM Dual Beam™ Quanta 3D FEG

Das Environmental Scanning Electron Microscope erlaubt zusätzlich zu herkömmlichen REM-Unterschungen im Hochvakuum die Untersuchung von nichtleitenden Proben im Niedervakuum ohne vorherige Probenpreparation und von feuchten Proben bei einem Wasserdampfdruck bis zu etwa 10 mbar. Damit sind z.B. auch Zellen und Gewebe direkt analysierbar. Sowohl Sekundär-Elektronendetektion als auch die Detektion der rückgestreuten Elektronen ist möglich.

Neben einer Reihe von Probenhaltern steht für die Untersuchungen ein Peltiertisch (-5°C bis 30°C) sowie ein Heiztisch (30°C bis 1000°C) zur Verfügung.

Zusätzlich ist das Gerät mit einem Gasinjektionssystem zur Platin-Deposition sowie einem EDX-System (EDAX Genesis XM2i) ausgerüstet.

ESEM


 

 

RasterkraftmikroskopAFM

JPK NanoWizard® III

Ein flüssigkeitsgeschützter Tip-Scanner mit einem Scanbereich von 100x100 µm. Das Gerät arbeitet in verschiedenen AFM-Betriebsmodi wie contact, AC mode, non-contact, phase imaging, lateral force, force modulation und magnetic force
microscopy. Als Zubehör steht eine Top-View-Optik sowie Heiz-Kühl-Tisch mit elektrochemischer Zelle zur Verfügung.


Elektrochemisches Rastermikroskop

Elektrochemische Rastermikroskope (SECM) in unterschiedlichen Messmodi

 

Sowohl die Rasterkraftmikroskopie als auch die elektrochemische Rastermikroskopie kann unter Umgebungsbedingung und unter inerten Bedingungen in einer Glovebox durchgeführt werden.

Glovebox